Analyseur EDXRF à géométrie cartésienne Rigaku – NEX CG II

Analyseur EDXRF à géométrie cartésienne Rigaku – NEX CG II :

L’analyseur EDXRF à géométrie cartésienne Rigaku – NEX CG II permet une analyse élémentaire améliorée par fluorescence X d’une précision ultime pour le contrôle qualité industriel et les applications de recherche avancée. L’analyseur NEX CG II utilise des tubes à rayons X haute puissance 50 kV, 50 W.

La fluorescence X à dispersion d’énergie (EDXRF) est une technique d’analyse utilisée pour la détermination qualitative et quantitative des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d’échantillons. Cette technique fournit des analyses rapides, non destructives et multi-éléments, depuis les faibles concentrations en parties par million (ppm) jusqu’aux concentrations élevées en pourcentage massique (wt%).

L’analyseur NEX CG II dispose d’un noyau optique unique en géométrie cartésienne tridimensionnelle (3D) à couplage étroit qui augmente considérablement le rapport crête/bruit de fond.

L’analyseur NEX CG II possède un système à excitation indirecte utilisant des cibles secondaires plutôt que des filtres à tube. L’excitation monochromatique et polarisée provenant des cibles secondaires améliore considérablement les limites de détection des éléments dans les matrices à forte diffusion telles que l’eau, les hydrocarbures et les matières biologiques. L’excitation par cible secondaire dans une géométrie cartésienne à 90° élimine le bruit de fond.

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